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HR-VIS-NIR-CL 高分辨率光譜儀
產(chǎn)品特點:HR-VIS-NIR-CL 高分辨率光譜儀,采用高分辨率光機平臺,配置先進的線陣探測器,是一款結(jié)構(gòu)緊湊、攜帶方便的微型光纖光譜儀。
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
更新時間:2024-10-25
產(chǎn)品型號:
訪問量:759
HR-VIS-NIR-CL 高分辨率光譜儀的詳細資料:
HR-VIS-NIR-CL 高分辨率光譜儀采用高分辨率光機平臺,配置先進的線陣探測器,是一款結(jié)構(gòu)緊湊、攜帶方便的微型光纖光譜儀。
HR-VIS-NIR-CL 高分辨率光譜儀的探測器響應范圍為315-1100nm,用戶可以選擇不同的光柵配置,得到不同的光學分辨率和光譜響應范圍,以滿足不同的應用需求。另外針對其它波段300-750nm/380-900nm/800-1000nm等,可以提供OEM定制。
性能特點:
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結(jié)構(gòu)緊湊,便于攜帶與系統(tǒng)集成
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交叉非對稱C-T光路結(jié)構(gòu),干涉濾光片消二級衍射,有效抑制雜散光
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315~1100nm寬光譜響應均衡
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高靈敏響應,實現(xiàn)弱光探測
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多種狹縫、透鏡、光柵可選,搭配靈活
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USB通信,即插即用,高速傳輸
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支持二次開發(fā),支持OEM集成
應用領(lǐng)域:
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激光器中心波長測量
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透射/反射測量
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輻射測量
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吸光度測量
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薄膜測量
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顏色測量
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熒光測量
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激光光譜測量
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太陽光譜測量
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LIBS光譜測量
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生化、醫(yī)學分析
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農(nóng)業(yè)與食品檢測
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水質(zhì)分析檢測
探測器 | TOSHIBA TCD1304線陣CCD |
---|---|
波長范圍 | 700nm-1100nm |
工作溫度 | 5℃ -35℃(推薦溫度25℃) |
像素 | 3648像素,每個像元8µm ×200 µm |
狹縫 | 5μm |
光學分辨率 | ~0.3nm |
信噪比 | 300:1全光譜 |
線性度 | >99% |
雜散光 | <0.1% (600nm, 435nm) |
A/D | 16 bit |
積分時間 | 4ms - 10s |
動態(tài)范圍 | 300:1 |
功耗 | 250 mA, 5 VDC |
通信接口 | USB2.0(12Mbps) RS232(115200bps) |
外觸發(fā)模式 | 軟件觸發(fā),硬件觸發(fā),同步觸發(fā) |
光纖接口 | SMA905 |
電源 | USB 或 5VDC |
尺寸 | 140mm x 110mm x 46mm |
儀器重量 | 0.7 Kg |
微軟操作系統(tǒng) | Win XP, Win7,Win8, Win10 |
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